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平面平晶(干涉平晶)

產品時間:2022-08-09

簡要描述:

SYPT-1平面平晶(干涉平晶)是用于以干涉法測量塊規,以及檢驗塊規、量規、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。 適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用,也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

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一.產品介紹:

SYPT-1平面平晶(干涉平晶)是用于以干涉法測量塊規,以及檢驗塊規、量規、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用,也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。




二.符合標準:JJG28-2000平晶檢定規程


三.SYPT-1平面平晶(干涉平晶)工作原理:

平晶是利用光波干涉現象測量平行度誤差的,故其測量方法稱為平晶干涉法(圖2),也稱技術光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ,以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面,且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發生干涉而出現明或暗的干涉條紋。若在白光下,則出現彩色干涉條紋。如干涉條紋平直,相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好;如干涉條紋彎曲,則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)

λ為光波波長,白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量,ω為干涉帶間距。


四.技術指標:

1. 平晶精度:1級

2. 平行度誤差:Ⅰ級 0.6μm

3. 平面度誤差:
直徑 30mm~60mm 0.03μm
直徑 80mm~150mm 0.05μm
直徑 200mm~300mm 0.06μm
直徑 300mm~600mm 0.08μm

4. 平面平晶的材料:光學K9玻璃,* ,檢驗標準 (GB 903-1987 無色光學玻璃)

5. 平晶必須放置在(20士5)℃和濕度≤80 % RH的檢定室內進行等溫,等溫時間不少于8h

五.產品規格:

規格

30mm

45mm

60mm

80mm

100mm

150mm

直徑

Φ30

Φ45

Φ60

Φ80

Φ100

Φ150

厚度

15mm

15mm

20mm

20mm

25mm

30mm

規格

200mm

250mm

300mm

400mm

500mm

600mm

直徑

Φ200

Φ250

Φ300

Φ400

Φ500

Φ600

厚度

40mm

45mm

45mm

45mm

50mm

50mm


可以定做正方形、長方形、環形平面平晶,可以定做二等平面平晶,標準樣板??梢詭С鰣蟾?,可以定做材質為石英平面平晶。


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